首頁
>
資訊信息
>
行業(yè)動態(tài)
行業(yè)動態(tài)
高溫煅燒氧化鋁粉的原晶粒度測定方法
氧化鋁粉經(jīng)過高溫煅燒相變制得高溫氧化鋁，而通常說的粒度值是指氧化鋁粉體的顆粒大小，煅燒氧化鋁粉的原晶粒度與粒度是觀點大相徑庭的兩個專業(yè)術(shù)語。近年來，一些高等院校及研究單位均各自做一些研討，以求其測定要領(lǐng)，雖然有相關(guān)報導(dǎo)，但都未公開技術(shù)細節(jié)。那么就原晶粒度與粒度測定的原理而言，有哪幾種測定方法呢？
1.電子顯微鏡法
以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費用高。
2.X射線衍射法
主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“款化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強度與JCPDS卡片不一致，進而影響到α氧化鋁定量分析的準確性。
3.氮吸附小比表面法
對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價值。
4.紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法
由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度。該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。
5.研磨法
早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實現(xiàn)宏觀控制。
煅燒氧化鋁粉也稱高溫氧化鋁粉，是由氫氧化鋁原料或工業(yè)氧化鋁經(jīng)高溫焙燒制得。它遍及運用于耐火材料、磨料、陶瓷等諸多產(chǎn)業(yè)。
氧化鋁粉經(jīng)過高溫煅燒相變制得高溫氧化鋁，而通常說的粒度值是指氧化鋁粉體的顆粒大小，煅燒氧化鋁粉的原晶粒度與粒度是觀點大相徑庭的兩個專業(yè)術(shù)語。近年來，一些高等院校及研究單位均各自做一些研討，以求其測定要領(lǐng)，雖然有相關(guān)報導(dǎo)，但都未公開技術(shù)細節(jié)。那么就原晶粒度與粒度測定的原理而言，有哪幾種測定方法呢？
1.電子顯微鏡法
以化學(xué)腐蝕與掃描電鏡（SEM）相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大，分析費用高。
2.X射線衍射法
主要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度，但a氧化鋁粉系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的，實驗表明并不存在“款化效應(yīng)”，甚至由于礦化劑的影響，造成衍射峰的強度與JCPDS卡片不一致，進而影響到α氧化鋁定量分析的準確性。
3.氮吸附小比表面法
對于多孔活性物質(zhì)較合適，但由于從高溫下獲得的a氧化鋁粉燒結(jié)體是致密的，開氣孔和閉氣孔均很少，液氮分子難以進入晶粒的間隙，因此測定的范圍是有限的，其測定晶粒度的誤差也較大，該法的原理限制了其工業(yè)應(yīng)用價值。
4.紅外光譜結(jié)構(gòu)分析法
由于譜線吸收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān)，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出平均晶粒度。該法分析的用品用量很少，對于晶粒度分布范圍寬的樣品，如何取得有代表性的樣品，仍是客觀存在困難。
5.研磨法
早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時增提到過這種方法，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比、固定研磨時間（大約為8小時左右），再用粒度分析儀測定粉碎物料的晶粒分布及中位徑D50，并用這種方法來實現(xiàn)宏觀控制。
煅燒氧化鋁粉也稱高溫氧化鋁粉，是由氫氧化鋁原料或工業(yè)氧化鋁經(jīng)高溫焙燒制得。它遍及運用于耐火材料、磨料、陶瓷等諸多產(chǎn)業(yè)。
更多
資訊信息
-
2024-06-27活性氧化鋁原粉的市場需求如何？它在不同地區(qū)的銷售情況有何差異？
-
2024-06-26碳化法制備活性氧化鋁原粉的原理和步驟是什么？
-
2024-06-25活性氧化鋁原粉的制備方法有哪些？
-
2024-06-24活性氧化鋁原粉在磨料領(lǐng)域有哪些應(yīng)用？
更多
推薦產(chǎn)品
